제품 > 광원 평가 > In-line colorimeter > LE series
LE 시리즈는 생산 라인의 제어 신호와 동기화하여 LED의 광학 특성을 측정하는 인라인 평가 시스템입니다. 측정 시간을 절반으로 단축함과 동시에 유연하고 다양한 측정 시스템을 갖추고 있어 어떠한 광원 관련 생산 공장의 환경에도 맞춤 제작이 가능합니다. LE-5400 모델은 부적합 판정 및 LED 비닝과 같은 품질 관리에 필요한 광학 특성 데이터를 제공합니다.
생산 라인에서 제어 신호와 동기화가 가능합니다.
광파이버를 사용한 유연하고 다양한 측정 시스템을 제공합니다.
노출 시간이 짧아 고속 테스트가 가능합니다. (LE-5400으로 측정 시 최소 2msec.)
테스트-계산-평가까지 고속 측정주기를 가지며, 이전 모델과 비교하여 측정 시간을 절반으로 단축했습니다.
| Type | A | B | C | D |
| Spectrum range(nm) | 380 ~ 960 | 300 ~ 800 | 330 ~ 1,100 | 350 ~ 930 |
| *Wavelength accuracy(nm) | ± 0.3 | ± 0.3 | ± 0.5 | ± 0.3 |
| Method | spectral method | |||
| Spectrometer | F=3, f=135mm | |||
| Grating | brazed holographic type | |||
| Detector | electro-cooling CCD image sensor | |||
| **Optical fiber | length: about 2m, diameter: about 12mm | |||
| Consumption electricity | max. 100VA | |||
| Size and weight | 280(W) x 160(H) x 296(D)mm, approx. 10kg | |||
*JIS Z 8724에 준거한 파장 교정 광원의 방출 라인에서 확인됨
**모양과 길이는 변경 가능
측정 항목
* 삼자극 값 〔JIS Z 8724〕
색도(u, v) 〔CIE 1960UCS〕
색도(x, y) 〔JIS Z 8724〕
색도(u', v') 〔CIE 1976UCS〕
주파장 및 자극순도 〔JIS Z 8701〕
상관 색온도와 Duv 〔JIS Z 8725〕
연색 지수(Ra, R1 ~ R15) 〔JIS Z 8726〕
피크의 파장, 높이 및 반치폭
두 번째 피크의 파장, 높이
적분값
중심 파장
지정된 파장의 높이
피크의 짧은 / 긴 파장의 적분값
*밝기(kY)는 검출기 및 LED 측정 광학 시스템에 따라 달라질 수 있음. 정렬(거리, 위치 및 방향)의 재현성이 확인된 경우에만 유효.
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