Three-Dimensional Optical Wave Field Microscope MINUK

• nm 오더의 투명한 이물 및 결함 평가가 가능 합니다.

• 한 번의 샷으로 순식간에 깊이 방향의 정보를 얻을 수 있습니다.
• 포커스가 필요하지 않아 고속 측정이 가능 합니다.
• 비파괴, 비접촉, 비침습으로 측정이 가능 합니다.
• 임의의 면을 고속으로 스캔하여 측정위치 결정용이 합니다.

Film total thickness

Film thickness line scanner(in-line type)

• 초다분광법을 이용하여 필름 전면의 두께 측정이 가능합니다.

• 독자적인 기술로 하드웨어(초다분광 카메라)와 소프트웨어를 설계했습니다.

• 고정밀 측정이 가능합니다. (특허 취득)

• 병렬연결방식으로 샘플 전체를 한 번에 검사할 수 있습니다.

Film thickness line scanner(off line type)

• 초다분광법을 이용하여 필름 등의 면내 막두께 얼룩을 전면 측정합니다.

• 독자적인 기술로 하드웨어(초다분광 카메라)와 소프트웨어를 설계했습니다.

• 고정밀 측정이 가능합니다. (특허 취득)

Array spectrometer MCPD series

• UV부터 NIR까지의 파장 범위를 포괄하는 다목적 분광기입니다.

• 마이크로 스팟 스펙트럼, 광원, 투과율, 반사율, 물체 색상 및 두께 측정이 가능합니다.

• 이전 모델보다 60% 더 소형화, 경량화 되었습니다.

LCD cell gap measurement RETS series

• 편광 광학 시스템을 사용하는 분광기입니다.
• LCD 셀의 셀겝 및 컬러 필터의 빈셀겝을 측정합니다.
• 1mm 광학 소자에서 10세대 대형 LCD 패널까지 다양한 크기의 샘플 측정이 가능합니다.

Retardation measurement system RETS-100nx

• 비파괴 방법으로 적층 필름을 측정합니다.
• 고속·고정밀로 60,000nm의 매우 높은 위상차도 측정 가능합니다.
• 축 각도 보정 기능으로 샘플 설치 반복에도 높은 정확도를 보여줍니다.

High speed retardation measurement RE-200

• 0nm부터 낮은 위상차를 측정하는데 적합합니다.

• 광축 감지와 동시에 위상차를 고속으로 측정합니다. 0.1초 이내에 측정 가능하며 이는 타사 제품 중에서 가장 빠릅니다.

• 550nm 외에 다양한 파장을 측정할 수 있습니다.

Array spectrometer MCPD series

• UV부터 NIR까지의 파장 범위를 포괄하는 다목적 분광기입니다.

• 마이크로 스팟 스펙트럼, 광원, 투과율, 반사율, 물체 색상 및 두께 측정이 가능합니다.

• 이전 모델보다 60% 더 소형화, 경량화 되었습니다.