입도분포·제타전위·분자량 측정기 ELSZ-2000ZS | 한국오츠카전자

알림

* 새로운 APD로 감도는 더 높아지고 측정시간은 더 짧아졌습니다.
* 자동 온도 구배 기능으로 융점 및 상 전이점 분석이 가능합니다.
* 0 ~ 90℃의 넓은 온도 범위를 가집니다.
* 광범위한 분자량 분석이 가능합니다.
농축 샘플 측정이 가능합니다.
전기 침투류 측정 및 플롯 분석을 통한 고정밀 제타 전위 분석이 가능합니다.
고염농도 샘플의 제타 전위 측정이 가능합니다.
* 더 작은 면적의 샘플의 표면 제타 전위 측정이 가능합니다.

Measurement principle	particle size	dynamic light scattering method (photon correlation method)
	zeta potential	electrophoretic light scattering method (laser doppler method)
	molecular weight	static light scattering method
Optical system	particle size	homodyne optical system
	zeta potential	heterodyne optical system
	molecular weight	homodyne optical system
Light source		high power semiconductor laser
Detector		high sensitivity APD
Cell	particle size/molecular weight	square cell
Cell	zeta potential	standard cell, small amount of disposable cell or concentrated cell
Temperature		0 to 90℃ (with gradient function)
Power supply		100V, 250VA
Size and weight		380(W) x 600(D) x 210(H)mm, approx. 22kg

계면 화학, 무기, 반도체, 폴리머, 생명 공학, 제약 및 의료 분야의 입자 특성 분석에 대한 기초 및 응용 연구뿐만 아니라 필름 및 평평한 고체 샘플의 표면 연구에 적합합니다.

새로운 기능성 소재
- 연료 전지 (탄소 나노 튜브, 풀러렌, 기능 필름, 촉매, 나노 메탈)
- 바이오 나노 테크놀로지 (나노 캡슐, 덴드리머, DDS), 나노 버블

세라믹 및 페인트
- 세라믹 (실리카, 알루미나, TiO2)
- 무기 졸의 표면 개질제, 분산 및 응집
- 카본 블랙 및 유기 안료의 분산 및 응집
- 슬러리 샘플
- 컬러 필터
- 흡착 연구

반도체
- 실리콘 웨이퍼의 표면 특성 연구
- 웨이퍼 표면의 연마제/첨가제 상호 작용 연구
- CMP 슬러리

폴리머 및 화학물질
- 에멀젼 분산 및 응집
- 라텍스의 표면 개질제
- 고분자 전해질의 기능 연구
- 제지 및 펄프 첨가제 연구의 공정 제어

제약 및 식품
- 에멀젼 분산 및 응집
- 리포좀 및 소포의 분산/결합 제어
- 계면 활성제의 기능 (Micelle)