RETS-100nx는 OLED 편광판, 적층 위상차 필름, IPS 액정용 위상차 필름이 부착된 편광판 등 모든 종류의 필름에 대응하는 위상차 측정 시스템입니다. 적층 필름 측정 시 별도의 박리가 필요없는 비파괴 방법을 사용합니다.
RETS-100nx는 고속 및 고정밀로 60,000nm의 매우 높은 위상차도 측정 가능합니다. 또한 샘플 교체로 인한 오정렬에 대응하는 보정 기능이 설치된 간단한 조작 방식의 소프트웨어를 제공하여 고객의 작업 환경에 도움을 드립니다. 따라서 고정밀 측정 결과를 쉽게 얻을 수 있습니다.
고성능 분광기를 탑재하여 고정밀 측정이 가능합니다.
1) 고정밀
다파장 측정으로 고정밀 실현
<고정밀 측정의 비결>
· 자체 고성능 멀티채널 분광기 MCPD 사용
· 다량의 투과율 정보(약 500파장, 타사 제품 대비 약 50배)
2) 0~60000nm의 폭넓은 위상차 측정 범위 
3) 위상차의 파장 분산 형상을 알 수 있음
| Retardation measurement range | 0 ~ 60000nm |
| Retardation repeatability | 3σ≦0.08nm(crystal wave plate approx. 600nm) |
| Cell gap measurement range | 0 ~ 600μm(Δn=0.1) |
| Cell gap repeatability | 3σ≦0.005μm(Cell gap approx. 3μｍ, Δn=0.1) |
| Axis detection repeatability | 3σ≦0.08°(crystal wave plate approx. 600nm) |
| Wavelength measurement range | 400 ~ 800nm(other options available) |
| Detector | Multi-channel spectrometer |
| Spot size | φ7㎜(standard spec.) |
| Light source | 100W Halogen lamp |
| Stage(standard) | 100㎜ x 100㎜(fixed stage) |
| Size | 480(W) x 520(D) x 765(H)mm |
| Option | · High retardation measurement · Multi-layer measurement · Axial angle correction function · Automatic XY stage · Automatic tilt-rotation stage |
| Film, optical material | Retardation(wavelength dispersion), slow axis, Rth*,3D refractive index*, etc. |
| Polarizing plate | Absorption axis, degree of polarization, extinction ratio, various chromaticity, various transmittance, etc. |
| Liquid crystal cell | Cell gap, pre-tilt angle*, twist angle, bonding angle, etc. |
*옵션인 Tilt-rotation stage가 필요합니다.
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