디스플레이 평가

디스플레이 평가

OLED(RGB, white), LED(micro, mini)

Imaging photometer

HS-1000H


Color filter

Color filter spectral inspection system

LCF

LCD cell gap measurement

RETS series

Retardation measurement system RETS-100nx


TFT(oxide/LTPS)

Microspectrophotometer

OPTM(UV SR) series

Spectro ellipsometer 

FE-5000 series

Sheet resistance

RS


OLED(RGB, white), LED(micro, mini)

High speed imaging spectroradiometer HS-1000H
  • 고성능 분광 휘도계와 카메라를 결합하여 광학 특성을 정확하고 신속하게 측정하는 2차원 휘도계입니다.
  • 디스플레이 측정에 필요한 0.05 ~ 3,000nit의 휘도 측정 범위를 가지고 있습니다.
  • 소형에서 대형까지 다양한 크기의 디스플레이 및 광원의 휘도 균일성을 평가합니다.


Color filter

Color filter spectral inspection system LCF
  • FPD 제조공정에서 컬러 필터에 대한 광학 특성 분석 및 유리기판 위의 필름 박막 분석을 수행합니다.
  • 투과 스펙트럼 측정, 컬러 측정, 농도 측정, 막 두께 측정 및 반사 스펙트럼 측정 등 컬러 필터 제조 공정의 모든 테스트를 지원합니다.
  • 레시피 등록 기능을 통해 완전 자동화 테스트를 지원합니다.

LCD cell gap measurement RETS series
  • 편광 광학 시스템을 사용하는 분광기입니다.
  • LCD 셀의 셀겝 및 컬러 필터의 빈셀겝을 측정합니다.
  • 1mm 광학 소자에서 10세대 대형 LCD 패널까지 다양한 크기의 샘플 측정이 가능합니다.

Retardation measurement system RETS-100nx
  • 비파괴 방법으로 적층 필름을 측정합니다.
  • 고속·고정밀로 60,000nm의 매우 높은 위상차도 측정 가능합니다.
  • 축 각도 보정 기능으로 샘플 설치 반복에도 높은 정확도를 보여줍니다.


TFT(oxide/LTPS)

Microscopic spectro-photometer OPTM(UV SR) series
  • 자외선 영역부터 적외선 영역까지 넓은 파장 범위를 측정하는 광학 시스템입니다.
  • 1초 안에 비접촉, 비파괴 고속 미세 측정이 가능합니다.
  • 정확한 막 두께와 광학 상수(n, k)를 얻기 위해 샘플의 절대 반사율을 측정합니다.

Spectro ellipsometer FE-5000 series
  • 가시광선 및 자외선 범위(250 ~ 800nm)에서 엘립소 파라미터를 측정합니다.
  • 자동 각도 조절이 적용된 메커니즘으로 정확한 두께 측정이 가능한 엘립소미터입니다.
  • 광학 상수 데이터베이스 및 레시피 등록 기능으로 조작성이 우수합니다.

Sheet resistance RS
  • 면저항 측정기입니다.
  • 접촉/비접촉 측정 모드 모두 지원합니다.
  • 10^-4 ~ 10^7Ω 측정 범위에서 CV < 1.5%의 재현성을 가집니다.


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