In-Chamber 
Measurement System

Imaging luminance-colorimeter

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 IC-SR

증착 챔버 내에서 수 nm 두께를 실시간 계측하여 공정 이상을 즉시 감지하고 불량·폐기를 대폭 줄여 생산성을 높이는 고정밀 두께 측정 솔루션입니다.

 제품 사양 
CategoryPartItemSpecification
H/WProbeWorking Distance (W/D)12~200 mm (Customizable with optical design)
SpectrometerWavelength Range220~850 nm
Wavelength accuracy±0.3 nm
Resolution1.0nm/pixel
CCD512 or 1024ch
TE-Cooled CCD Image Sensor
LampsourceLDLS
wavelength190~2500 nm
Lifetime10,000 h (14 months)
InterlockShutter, sensor (option)
Optical fiberLength0.5~25m
MaterialQuartz
Vacuum≤10-7 Torr

S/W

Measurement

Repeatability
1) SiO2(1000Å)/Si, 1σ≤1Å
2) OLED(200~1000Å), 1σ≤ 0.5Å
Tact timeTotal ≤ 1.5s (1 point measurement)
 - Ref./Dark ≤ 0.5s (최초 1회)
- Sample ≤ 0.5s
 - Fitting & Data upload ≤ 1s
Recipe
Model (Dispersion equation)Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz Drude-Lorentz, EMA mix, etc.,
QuantityMax 999
 CommunicationPLC, CIM, CC-LINK IE Field
 소개문구 

• 증착 챔버 내에서 수 nm 두께를 실시간 계측하여 공정 이상을 즉시 감지하고 불량·폐기를 대폭 줄여 생산성을 높이는 고정밀 두께 측정 솔루션입니다.

 제품특성 

• 챔버 환경 (높이 및 기울기)에 맞는 최적의 광학 설계

• UV-VIS 파장 대역을 사용하여 수 nm의 ultra thin film 두께 측정

• 10⁻⁵ Pa 이하의 초고진공 조건에서도 안정적으로 사용할 수 있도록, outgassing 특성이 우수한 전용 소재를 적용

경기도 성남시 분당구 성남대로 925번길 41 파인벤처빌딩 6층 B호 (13496)


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